|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 54 van 54 gevonden artikelen
| Titel: |
Untersuchungen zur atomspektroskopischen Spurenanalyse in AIII BV-Halbleitermikroproben—VI Untersuchungen zur Schichtabtrennung, Profil- und Spurenanalyse an InSb-Materialien |
| Auteur: |
Schelpakowa, I.R. Schtscherbakowa, O.I. Judelewitsch, I.G. Beisel, N.F. Dittrich, K. Mothes, W. |
| Verschenen in: |
Talanta |
| Paginering: | Jaargang 29 (1982) nr. 7 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1982 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 54 van 54 gevonden artikelen
| << vorige |